◆ 納米粒度及電位分析儀相關(guān)技術(shù) ◆

動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)

動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)DLS，又稱作光子相關(guān)光譜PCS或者準(zhǔn)彈性光散射。該技術(shù)檢測(cè)由于顆粒布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的散射光的波動(dòng)隨時(shí)間的變化。其中小顆粒造成的散射光信號(hào)波動(dòng)較快，大顆粒造成的散射光信號(hào)波動(dòng)較慢。APD檢測(cè)器將散射光信號(hào)轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，再通過(guò)數(shù)字相關(guān)器的運(yùn)算處理，得到顆粒在溶液中擴(kuò)散的速度信息，即擴(kuò)散系數(shù)D。通過(guò)Stokes-Einstein方程可以得到顆粒、大分子的尺寸，即流體力學(xué)直徑D_H及其分布。

BeNano智能尋找檢測(cè)點(diǎn)位置的背向動(dòng)態(tài)散射技術(shù)

通過(guò)透鏡的移動(dòng)可以實(shí)現(xiàn)將檢測(cè)點(diǎn)在樣品池中央到邊緣任意位置的移動(dòng)設(shè)置?？梢宰畲蟪潭壬霞骖櫜煌N類、不同濃度樣品的檢測(cè)需求。在實(shí)際檢測(cè)過(guò)程中，根據(jù)樣品濃度、大小、散射能力，對(duì)于每個(gè)特定樣品確認(rèn)其檢測(cè)位置和激光的強(qiáng)度，以達(dá)到測(cè)試條件和測(cè)試準(zhǔn)確性。

作用：

● 高濃度樣品粒徑測(cè)試

毛細(xì)管粒徑池

微量樣品檢測(cè)的需求一直存在，尤其是對(duì)于樣品極為珍貴的生物制藥領(lǐng)域，目前的低容量樣品池具有加樣容易產(chǎn)生氣泡，清洗困難，成本較高等等問(wèn)題。BeNano-系列納米粒度電位儀使用了一種新穎的毛細(xì)管檢測(cè)技術(shù)，具有樣品量更低（僅需3-5μL）樣品，加樣方便，清洗便捷，成本低廉，能有效防止大顆粒沉降等特點(diǎn)，為具有極微量樣品測(cè)試需求的用戶提供了現(xiàn)實(shí)可行的解決方案。

作用：

● 極微量樣品測(cè)試

● 大顆粒樣品測(cè)試

電泳光散射技術(shù)

分散在液體中的顆粒往往在表面攜帶一定量電荷，這些電荷會(huì)使顆粒在溶液中形成一個(gè)超過(guò)顆粒表面界限的雙電層。顆粒的電勢(shì)在顆粒的表面最大，稱作表面電位（surface potential），在嚴(yán)密電位層的電位稱作嚴(yán)密層電位（Stern potential），在顆粒的滑移層的位置的電勢(shì)值稱作Zeta電位。顆粒的Zeta電位與顆粒之間的相互作用力息息相關(guān)，較高的Zeta電位有利于防止顆粒團(tuán)聚，維持體系的穩(wěn)定性。

電泳光散射ELS技術(shù)是一種光學(xué)的測(cè)試技術(shù)，通過(guò)檢測(cè)顆粒電泳運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的散射光的多普勒頻移，進(jìn)而分析原始的光學(xué)信號(hào)得到顆粒的電泳速度信息，由亨利方程建立起的顆粒電泳速度和Zeta電位的關(guān)系最終得到顆粒在當(dāng)前體系中Zeta電位和Zeta電位分布信息。

相位分析光散射

傳統(tǒng)的電泳光散射技術(shù)ELS是通過(guò)相關(guān)器處理得到的樣品拍頻信號(hào)，進(jìn)而計(jì)算散射光的頻率差Δf ，丹東百特儀器公司在傳統(tǒng)電泳光散射技術(shù)的基礎(chǔ)上，開發(fā)出了全新的用于檢測(cè)顆粒Zeta電位的相位分析光散射技術(shù)PALS，可以通過(guò)一個(gè)測(cè)試同時(shí)得到Zeta電位的平均值和分布值信息。

BeNano相位分析光散射技術(shù)，是通過(guò)解析原始信號(hào)的相位Φ信息從而得到散射光的頻率信息，相位隨時(shí)間的變化dΦ/dt正比于頻率變化Δf。相位分析光散射技術(shù)可以極大程度的降低顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)等等因素對(duì)于測(cè)試結(jié)果的影響，從而得到更高的統(tǒng)計(jì)學(xué)精度。從應(yīng)用角度而言通過(guò)PALS技術(shù)可以有效檢測(cè)等電點(diǎn)附近，高鹽濃度下極慢電泳速度的顆粒的Zeta電位信息。

         作用：

         ●低電泳遷移率樣品測(cè)試

         ●高鹽濃度樣品Zeta電位測(cè)試

         ●電中點(diǎn)附近樣品Zeta電位測(cè)試

可拋棄毛細(xì)管電極和插入式電極

BeNano采用毛細(xì)管電極和插入電極進(jìn)行Zeta電位測(cè)試，其中：

●毛細(xì)管電極的電極距離 5cm，避免對(duì)樣品加熱，電場(chǎng)更均勻，可避免交叉污染，適合高極性體系。樣品池僅4mm厚度，最高可檢測(cè) 40%濃度樣品，可拋棄，節(jié)約使用成本。

●插入式電極適合有機(jī)相樣品使用

分子量的測(cè)量

靜態(tài)光散射技術(shù)SLS，檢測(cè)顆粒、大分子物質(zhì)的平均散射光強(qiáng)，通過(guò)瑞利散射方程將散射光強(qiáng)與大分子物質(zhì)的絕對(duì)分子質(zhì)量和第二維利系數(shù)A₂等信息聯(lián)系起來(lái)。

其中c為樣品的濃度，θ為測(cè)量的角度（散射角），R_θ 為θ角方向的瑞利散射比，Mw 為重均分子量，A₂ 為第二維利系數(shù)，K為與（dn/dc）²相關(guān)的常數(shù)。

使用BeNano進(jìn)行測(cè)試，在檢測(cè)過(guò)程中，配制一系列不同濃度的溶液，分別檢測(cè)其散射光強(qiáng)，并轉(zhuǎn)化為不同散射光強(qiáng)下的瑞利比，通過(guò)以Kc/R_θ對(duì)濃度外推的Debye曲線，得到分子量和代表分子間相互作用的A₂信息。